Ostoskori (0)
Huom! Käyttökatkos 1.6.2025
Huom! Tietosuojaselostetta on taas päivitetty Lue lisää
Standardi

IEEE 1687-2014

Voimassa

Standardista on uudempi painos: IEEE 1687-2014

Esikatsele

Lisää mahdolliset korjaukset ja lisäykset ostoskoriin alta.

Kieli
Toimitustavat

Soveltamisala

New IEEE Standard - Active. A methodology for accessing instrumentation embedded within a semiconductor device, without defining the instruments or their features themselves, via the IEEE 1149.1(TM) test access port (TAP) and/or other signals, is described in this standard. The elements of the methodology include a hardware architecture for the on-chip network connecting the instruments to the chip pins, a hardware description language to describe this network, and a software language and protocol for communicating with the instruments via this network.

Julkaisun tiedot

  • Standardi julkaisijalta IEEE
  • Julkaistu:
  • Julkaisutyyppi: IS
  • products.specs.pages
  • Publisher IEEE
  • Distributor IEEE
  • ICS 31.180
  • ICS 31.200
  • Tekninen komitea IEEE Computer Society / Test Technology

Sidokset