Ostoskori (0)
Huom! Käyttökatkos 1.6.2025
Huom! Tietosuojaselostetta on taas päivitetty Lue lisää
Standardi

IEEE 1149.4-2024

Voimassa

Lisää mahdolliset korjaukset ja lisäykset ostoskoriin alta.

Kieli
Toimitustavat
Tuotteelle ei ole saatavilla toimitustapoja

Hinta ei ole saatavilla

Soveltamisala

Revision Standard - Active. The testability structure for digital circuits described in IEEE Std 1149.1™ has been extended to provide similar facilities for mixed-signal circuits. The architecture is described, together with the means of control of and access to, both analog and digital test data. Sample implementation and application details (which are not part of the standard) are included for illustration. Also, extensions to the standard Boundary-Scan Description Language (BSDL) are defined that allow description of key component-specific aspects of such testability features.

Julkaisun tiedot

  • Standardi julkaisijalta IEEE
  • Julkaistu:
  • Julkaisutyyppi: IS
  • products.specs.pages
  • Publisher IEEE
  • Distributor IEEE
  • ICS 31.180
  • Tekninen komitea IEEE Computer Society / Test Technology

Sidokset