Standardi

IEC 60122-1:1976 ED2

tammi 1976 Replaced

Standardista on uudempi painos: IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 CSV

Lisää mahdolliset korjaukset ja lisäykset ostoskoriin alta.

Kieli Englanti/Ranska

Toimitustavat Lue selaimessa + tallenna ja tulosta €184,00 Lue selaimessa €123,00 Painettu Toimitusaika: 5-10 arkipäivää €246,00

Standardilla ei ole liittyviä julkaisuja

Avaa tuotekortti
Replaced IEC 60122-1:1976/AMD1:1983 ED2 Lisäys (AMD) from Julkaisupäivämäärä: loka 1983 Sivut: 5 Kieli: Englanti/Ranska Toimitustavat: Lue selaimessa, Painettu, Lue selaimessa + tallenna ja tulosta

Soveltamisala

Chapter I contains terms and definitions and gives standard values for operating temperature ranges, load capacitance, levels of drive and leak rate. Requirements concerning marking of the crystal unit are also stated. Chapter II deals with standard conditions for testing, visual examination, electrical and mechanical tests. A test schedule for type-tests is included.

Julkaisun tiedot

Standardi julkaisijalta IEC
Julkaistu: 1. tammikuuta 1976
Kumottu: 1. kesäkuuta 1994
Painos: 2
Julkaisutyyppi: IS
Pages
ISBN: 2831803969

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.140
ISO TC TC 49

Sidokset

On korvattu: IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 CSV
On korvattu: IEC 60122-1:2002 ED3
On korvattu: IEC 61178-1:1993 ED1
Korvaa: IEC 60122-1:1962 ED1

IEC 60122-1:1976 ED2

Luo kestotilaus

SFS Onlinessa

IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 CSV

IEC 60122-1:2002 ED3