Ostoskori (0)
Huom! Käyttökatkos 1.6.2025
Huom! Tietosuojaselostetta on taas päivitetty Lue lisää
Standardi

IEEE 1581-2011

Kumottu
Esikatsele

Lisää mahdolliset korjaukset ja lisäykset ostoskoriin alta.

Kieli
Toimitustavat

Soveltamisala

New IEEE Standard - Inactive-Reserved. IEEE Std 1581 defines a low-cost method for testing the interconnection of discrete, complex memory integrated circuits (ICs) where additional pins for testing are not available and implementing boundary scan (IEEE Std 1149.1(TM)) is not feasible. This standard describes the implementation rules for the test logic and test mode access/exit methods in compliant ICs. The standard is limited to the behavioral description of the implementation and will not include the technical design for the test logic or test mode control circuitry.

Julkaisun tiedot

  • Standardi julkaisijalta IEEE
  • Julkaistu:
  • Kumottu:
  • Julkaisutyyppi: IS
  • products.specs.pages
  • Publisher IEEE
  • Distributor IEEE
  • ICS 31.200
  • Tekninen komitea IEEE Computer Society / Test Technology

Sidokset